立式光彈測試儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

產(chǎn)品名稱(chēng)：立式光彈測試儀

型   號：ANA6000P-V

應   用：測試 SiC晶圓、手機膜、顯示屏、石英玻璃等器件內部的應力雙折射/殘余應力，以圖像形式直觀(guān)觀(guān)察被測件的應力分布和應力集中情況。

安賽斯立式光彈測試儀：光彈系數測試儀(ANA6000P-V)是應用偏振光干涉原理對應力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學(xué)構件模型進(jìn)行實(shí)驗應力測試的儀器，簡(jiǎn)稱(chēng)光彈儀。應用它可以測試 SiC晶圓、手機膜、顯示屏、石英玻璃等器件內部的應力雙折射/殘余應力，以圖像形式直觀(guān)觀(guān)察被測件的應力分布和應力集中情況。

立式光彈測試儀主要技術(shù)參數：

1.       測試面積（即光源尺寸）

標準尺寸為300 mm×300mm，其它尺寸可以定制，最大600mm×500mm；

2.       相機參數

2248*2048原始分辨率，輸出4幅1224*1024的偏振圖像。幀率36或79。

3.       應力雙折射量程

基本型: 量程為工作波長(cháng)的1/4（以紅光為例，量程即157.5nm）；

增強型：2296nm。需要采用藍、綠兩種顏色的光源進(jìn)行測試，并進(jìn)行相位解包裹處理；

? 3.  測試分辨率與精度

以 0.8mm 厚的鈣鈉玻璃為例：應力測試的分辨率為 0.2MPa：應力測試的精度：1.0MPa。

應力雙折射的測試分辨率：0.1nm, 精度：1.0nm；

產(chǎn)品特色：

與傳統/常規的光彈儀相比，本立式光彈測試儀具有如下特點(diǎn)：

1.     結構簡(jiǎn)單

主要部件包括：偏振光源、傾斜平臺（用于晶體試件測試）、濾光片轉輪、像素偏振相機、高配筆記本電腦（內存 16G 以上）及處理軟件，不含任何可旋轉的光學(xué)偏振器件。

2.     操作簡(jiǎn)單，可以實(shí)現快速甚至實(shí)時(shí)測試

只需一次拍照即可同時(shí)獲取試件的相位差場(chǎng)和主應力方向場(chǎng)，避免了傳統方法在定量測試時(shí)的復雜操作，且在平面應力的條件下可以分離出各應力分量；

3.     靈敏度高且不受環(huán)境光的干擾

測試靈敏度是傳統光彈法/設備的兩倍（物理靈敏度），且無(wú)論相位差多小，都可以用最大的灰度梯度圖像表示（顯示靈敏度高）；由于采用不同偏振圖像之間的相減運算，使得測試幾乎不受環(huán)境光的干擾。

4.     多種測試波長(cháng)可選并快速切換

切換方式包括RGB 三色 LED 光源（中心波長(cháng)分別為：625nm、525nm 和 465nm）的切換以白光光源下不同的窄帶濾光片的輪換。

5.     可以根據客戶(hù)要求定制產(chǎn)品

在某些特殊情況下，客戶(hù)需要用自己的相機和光源，我們可以根據需要對產(chǎn)品進(jìn)行定制，滿(mǎn)足客戶(hù)的需要。

安賽斯光彈儀工作原理

設：圓盤(pán)試件（直徑D, 厚度d）受對徑壓縮載荷 F 的作用，試件中心點(diǎn)O 的主應力分別是：

根據應力-光學(xué)定律，應力雙折射材料的主應力差與相位差（?）的關(guān)系如下：

其中C 為待求的光彈系數，λ 為測試光的波長(cháng)。

將（1）（2）關(guān)聯(lián)起來(lái)，有：

通過(guò)光彈實(shí)驗確定圓形試件中心點(diǎn)的位相差?，即可得到光彈系數。

實(shí)驗示意及應用范圍：

  立式光彈儀 ：利用應力雙折射性質(zhì)，在工程上可以制成各種機械零件的透明塑料模型，然后模擬零件的受力情況，觀(guān)察、分析偏振光干涉的色彩和條紋分布，從而判斷零件內部的應力分布。

應力雙折射信息

圓盤(pán)徑向受壓實(shí)驗：

U型塊壓彎組合實(shí)驗：

光彈性方法直觀(guān),能直接顯示應力集中區域，并準確給出應力集中部分的量值；它不但可以得到便捷應力而且能夠求的結構的內部應力。特別是這一方法不受形狀和載荷的限制，可以對工程復雜結構進(jìn)行應力分析。

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